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當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心熱銷產(chǎn)品綜合測(cè)試儀19036Chroma 19036 繞線元件電氣安規(guī)綜合測(cè)試儀

Chroma 19036 繞線元件電氣安規(guī)綜合測(cè)試儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Chroma 19036 繞線元件電氣安規(guī)綜合測(cè)試儀
五合一安規(guī)掃描分析儀
(交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻、層間短路、 直流電阻)
耐壓測(cè)試(Hi-pot)
- 5kVac / 6kVdc
- HSCC 高速接觸檢查
絕緣電阻測(cè)試(IR)
- 大 5kV
繞線元件脈衝測(cè)試 (IWT)
-脈衝測(cè)試高取樣率(200MHz)
直流電阻測(cè)試
- 10通道四線直流電阻測(cè)試
-Δ型/Y型馬達(dá)繞

產(chǎn)品型號(hào):19036
更新時(shí)間:2024-11-29
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:1686
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品牌Chroma/致茂產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域電子,交通

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Chroma 19036 繞線元件電氣安規(guī)綜合測(cè)試儀

主要特色:

  • 五合一安規(guī)掃描分析儀 
    (交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻、層間短路、 直流電阻)
  • 耐壓測(cè)試(Hi-pot) 
    - 5kVac / 6kVdc 
    - HSCC 高速接觸檢查
  • 絕緣電阻測(cè)試(IR) 
    - 大 5kV
  • 繞線元件脈衝測(cè)試 (IWT) 
    -脈衝測(cè)試高取樣率(200MHz)
  • 直流電阻測(cè)試 
    - 10通道四線直流電阻測(cè)試 
    -Δ型/Y型馬達(dá)繞線電阻計(jì)算
  • 支援大40通道掃描測(cè)試
  • 繁中 / 簡(jiǎn)中 / 英文操作介面
  • USB波形儲(chǔ)存& 畫面擷取功能
  • 圖形化彩色顯示
  • 標(biāo)準(zhǔn)LAN, USB, RS232介面
  • GFI人體保護(hù)電路

 

Chroma 19036為業(yè)界首創(chuàng)結(jié)合脈衝測(cè)試,耐壓、絕緣電阻與直流電阻量測(cè)於單機(jī)的繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀,擁有5kVac/6kVdc高壓輸出、5kV絕緣電阻、6kV層間短路脈衝電壓與四線式直流電阻量測(cè)。符合繞線元件測(cè)試需求且提供多通道掃描測(cè)試,單機(jī)10通道輸出可達(dá)成一次多顆掃描測(cè)試,節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本。

繞線元件的測(cè)試項(xiàng)目包含AC/DC耐壓測(cè)試、IR絕緣電阻測(cè)試、繞線元件脈衝測(cè)試(IWT)及直流電阻(DCR)。將以上各項(xiàng)測(cè)試整合於19036繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀,可針對(duì)馬達(dá)、變壓器、電熱絲、電磁閥等相關(guān)繞線產(chǎn)品進(jìn)行安規(guī)測(cè)試,讓繞線元件生產(chǎn)廠商及使用者在品質(zhì)驗(yàn)證時(shí),不但擁有可靠的測(cè)試品質(zhì),能更有效率為產(chǎn)品品質(zhì)把關(guān)。

線圈自體絕緣不良通常是造成線圈於使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、跨線短路、出腳短路之根源。其形成原因可能源於初始設(shè)計(jì)不良、加工製程不良,或絕緣材料之劣化等所引起,故在電氣安規(guī)測(cè)試製程中加入線圈層間短路測(cè)試,即可多組繞組一次掃描測(cè)試完成,進(jìn)一步的提升繞線元件品質(zhì)。

19036結(jié)合層間短路測(cè)試功能,具備6kV脈衝電壓,擁有波形面積比較、波形差面積比較、波形顫動(dòng)偵測(cè)(Flutter)及波形二階微分偵測(cè)(Laplacian)等判定,提供線圈自體絕緣不良以及電感量確認(rèn)之有效的檢測(cè)方法。

19036專利設(shè)計(jì)四線直流電阻量測(cè)接口,包含Drive 與 Sense並符合耐壓規(guī)格,可提供10通道的四線直流電阻量測(cè)與溫度補(bǔ)償功能。另可同時(shí)搭配16通道掃描盒多可達(dá)到40通道掃描測(cè)試 。

19036提供高速接觸檢查(HSCC)功能,利用直接繞線電阻檢查快速掃描確認(rèn)多個(gè)繞組連接是否正常,解決繞線元件接觸不良而導(dǎo)致測(cè)試失敗的問題。

馬達(dá)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如UL 1004-1,需求高功率的安規(guī)綜合測(cè)試儀。Chroma 19036其具有輸出及量測(cè)AC100mA/DC 20mA的能力。對(duì)於漏電流較大或大型設(shè)備電氣安規(guī)測(cè)試的使用者,高功率的耐壓測(cè)試與其他安規(guī)測(cè)試整合於一臺(tái)綜合測(cè)試儀,將為產(chǎn)線及品保驗(yàn)證帶來大的效益,500VA的設(shè)計(jì)也符合IEC/UL對(duì)輸出功率的要求。

量測(cè)技術(shù)

耐壓測(cè)試 FLASHOVER DETECTION 電氣閃絡(luò)偵測(cè) ARC 
19036 與Chroma 其他安規(guī)測(cè)試系列儀器同樣具有 Flashover偵測(cè)功能。Flashover是絕緣材料內(nèi)部或表面因 高電界產(chǎn)生電氣放電,待測(cè)物失去原有之絕緣特性,形 成暫態(tài)或非連續(xù)性放電,導(dǎo)致碳化導(dǎo)電通路產(chǎn)生或產(chǎn)品 傷害。若只以漏電流判定則無法檢出不良,須以測(cè)試電 壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測(cè) 為高壓測(cè)試*的檢視項(xiàng)目之一。

耐壓測(cè)試

脈衝測(cè)試 
所謂的『繞線元件脈衝測(cè)試』基本上是以一『非破壞性』、高速、低能量之電壓脈衝施加在待測(cè)物上,再藉由分析/比對(duì)待測(cè)物良品與不良品之 等效波形以達(dá)到判定良否之目的。繞線元件脈衝測(cè)試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線元件中各種潛在之缺陷,例如:層間短路、電暈電弧或甚至是不 易發(fā)覺之部分放電等。 四種判定模式 
1.波形面積比較 (AREA SIZE) 
2.波形差面積比較 (DIFFERENTIAL AREA) 
3.波形顫動(dòng)偵測(cè) (FLUTTER DETECTION) 
4.波形二階微分偵測(cè) (LAPLACIAN DETECTION), 以二階微分演算,有效偵測(cè)出因電氣放電造成之波形不連續(xù)現(xiàn)象。

脈衝測(cè)試

DCR 直流電阻量測(cè)功能

  • DCR量測(cè)(兩線/四線) 
    Chroma 19036可選擇四線或兩線式直流電阻量測(cè),新型式專利設(shè)計(jì)接口提供10通道四線直流電阻測(cè)量,對(duì)於馬達(dá)及變壓器等多繞組樣品提供高準(zhǔn) 確度量測(cè),其量測(cè)範(fàn)圍從0.1mΩ ~500kΩ。
  • 直流電阻平衡判定 (DCR Balance) 
    三組繞線馬達(dá)的直流電阻不平衡時(shí),易導(dǎo)致旋轉(zhuǎn)不平衡,長(zhǎng)期使用後會(huì)造成品質(zhì)不良。直流電阻平衡功能將繞組的大小值相減,若超過設(shè)定 值範(fàn)圍即為不良品,是馬達(dá)類產(chǎn)品長(zhǎng)期可靠度測(cè)試的輔助工具。
  • 溫度補(bǔ)償功能(Temp Compensation) 
    當(dāng)量測(cè)較小的直流電阻值時(shí),常會(huì)遇到溫差所造成的問題。當(dāng)量測(cè)時(shí)的溫度不同時(shí),量測(cè)的阻值也會(huì)不同。因此 19036 加入了溫度補(bǔ)償功能 (Temp Compensation),經(jīng)由溫度係數(shù)的轉(zhuǎn)換,將直流電阻換算為標(biāo)準(zhǔn)溫度下量測(cè)的值,減少溫度差異造成的影響。

接觸檢查功能 
高速接觸檢查 High Speed Contact Check (HSCC) 電氣安規(guī)測(cè)試迴路若發(fā)生開路,不良品會(huì)誤判為良品導(dǎo)致測(cè)試失敗 ; 若發(fā)生短路現(xiàn)象,可提早得知並篩選,減少對(duì)治具設(shè)備的傷害,高速接觸檢 查功能可快速掃描待測(cè)物線路接觸是否正常,此新技術(shù)可以讓耐壓測(cè)試前的接觸檢查比以往更快速完成, 19036另具有高頻接觸檢查(HFCC) 及開 短路偵測(cè)OSC(專利號(hào)254135)等多項(xiàng)接觸檢查功能,可偵測(cè)繞組與鐵芯間是否有開路(接觸不良)或短路(待測(cè)物短路)情形。

次測(cè)項(xiàng)功能SUBSTEP 
部分生產(chǎn)廠商常以並聯(lián)進(jìn)行耐壓測(cè)試以提升生產(chǎn)檢測(cè)速度,但並聯(lián)測(cè)試時(shí),無法正確設(shè)定電 流上下限值,導(dǎo)致不良品流出; 以及不良品需至後測(cè)站另加進(jìn)行測(cè)試,增加站數(shù)及成本。 19036系列提供次測(cè)項(xiàng)功能(sub-step)。當(dāng)生產(chǎn)需要並聯(lián)測(cè)試時(shí),經(jīng)由程序的編輯,以不良 (Fail)做為次測(cè)項(xiàng)啟動(dòng)條件。意指當(dāng)測(cè)試於主測(cè)項(xiàng)(並聯(lián))不良時(shí),才會(huì)進(jìn)行次測(cè)項(xiàng)測(cè)試(單顆), 即可判斷出不良品為哪一顆待測(cè)物,可達(dá)到高產(chǎn)速與高檢測(cè)品質(zhì)之蕞佳化。

人體保護(hù)電路GFI 
Chroma 19036擁有GFI人體保護(hù)功能來保護(hù)測(cè)試人員。在突發(fā)人體感電的情形下,GFI 能夠立 即切斷儀器之電壓輸出,保護(hù)操作員不受電氣傷害。GFI 功能以偵測(cè)從地端(Earth GND)流回 之電流(Ioperator)與LOW端電流(Idevice),比較後若大於0.5mA,則會(huì)在立即切斷電壓輸出。

人體保護(hù)電路

產(chǎn)品應(yīng)用

旋轉(zhuǎn)電機(jī)元件:△ / Y馬達(dá)、風(fēng)扇、轉(zhuǎn)子/ 定子 從電動(dòng)車主馬達(dá)、伺服器馬達(dá)、揚(yáng)昇馬達(dá)與風(fēng)扇 等所有旋轉(zhuǎn)電機(jī)類產(chǎn)品,其製程中會(huì)進(jìn)行脈衝測(cè) 試 、耐壓測(cè)試及直流阻抗量測(cè)等測(cè)試來確保產(chǎn) 品品質(zhì)。並參考JB/T 7080國(guó)標(biāo)機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí) 行測(cè)試。19036之直流電阻量測(cè)上可進(jìn)行四線式 量測(cè),單端點(diǎn)包含Drive和Sense共10組獨(dú)立通道 讓您可以一次掃描測(cè)試三顆待測(cè)物,提高生產(chǎn)產(chǎn) 能。每個(gè)通道可分別設(shè)定為高壓輸出/參考端/關(guān) 閉。

Y型馬達(dá)測(cè)試說明,測(cè)試項(xiàng)目為: 
- HSCC / OSC 
- DCR Test 
- Impulse Test 
- Hi-pot –Sub step test

 

Y型馬達(dá)測(cè)試說明,測(cè)試項(xiàng)目

△與Y型馬達(dá)繞組 
針對(duì)△型與Y型馬達(dá)繞組(無中心抽頭式)無法直 接進(jìn)行直流電阻量測(cè)的問題, Chroma 19036 具有馬達(dá)繞線電阻計(jì)算功能, 經(jīng)計(jì)算後得 到R1,R2,R3的數(shù)值。

 

△與Y型馬達(dá)繞組
40通道掃描測(cè)試 
A190359掃描器提供16個(gè)測(cè)試通道,每個(gè)通道 都可設(shè)定為H(高壓輸出),L(參考點(diǎn))或是Off(不 設(shè)定)。19036與A190359組合可應(yīng)用於多PIN或 少量多樣型之待測(cè)物 以及cell單元式產(chǎn)線,單 站完成所有測(cè)試。
40通道掃描測(cè)試

 

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Model敘述詢價(jià)
19036繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀 
A19035916通道高壓掃描治具 
A19036019036 19吋機(jī)框耳架 
A19036216通道四線式高壓掃描治具 
A190363雙十字高壓香蕉頭+測(cè)試夾 
A190364雙十字高壓香蕉頭+截平 (1.5m) 
A190365雙十字高壓香蕉頭+截平 (3m) 
 

Chroma 19036 繞線元件電氣安規(guī)綜合測(cè)試儀

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